2D комп’ютерний штангенрейсмас - MICROTECH - Innovative measuring instruments
2D комп’ютерний штангенрейсмас Збільшити для перегляду

2D комп’ютерний штангенрейсмас

MICROTECH

Патент US10184772, UA99687, UA131637, UA202002000 від MICROTECH

Детальніше

Інформація

Мікронний 2D Штангенрейсмас виробництва МІКРОТЕХ дозволяє проводити високоточні вимірювання в двох координатах. Дискретність вимірювання в координаті Z - 1 мікрон, в координаті X - 0,1 мікрон.
Дані вимірювань відображаються всередині комп'ютеризованої системи MICS розробки МИКРОТЕХ і можуть передаватися на додаток МИКРОТЕХ MDS Pro для обробки даних, збереження 2D, 1D графіки, архівації даних або передачі в зовнішні додатки Windows.
Всі Штангенрейсмаси МИКРОТЕХ проходять метрологічний контроль а акредитованої по ISO 17025 лабораторії.

Завантаження