Ручний 2D Штангенрейсмас з лазерним щупом
Мікронний Ручний 2D Штангенрейсмас виробництва МІКРОТЕХ з лазерним щупом дозволяє проводити високоточні безконтактні вимірювання в двох координатах. Дискретність вимірювання в координаті Z – 1 мікрон, в координаті X – 2 мікрона.
*taxes are not included
- Опис
- Technical data
- PDF-Datasheet
Опис
Мікронний Ручний 2D Штангенрейсмас виробництва МІКРОТЕХ з лазерним щупом дозволяє проводити високоточні безконтактні вимірювання в двох координатах. Дискретність вимірювання в координаті Z – 1 мікрон, в координаті X – 2 мікрона.
Дані вимірювань відображаються всередині комп’ютеризованої системи MICS розробки МИКРОТЕХ і можуть передаватися на додаток МИКРОТЕХ MDS Pro для обробки даних, збереження 2D, 1D графіки, архівації даних або передачі в зовнішні додатки Windows.
Всі Штангенрейсмаси МИКРОТЕХ проходять метрологічний контроль в акредитованої по ISO 17025 лабораторії.
Додаткова інформація
| Range up to, mm | |
|---|---|
| Resolution, mm | |
| Вивід даних | |
| Індикація | |
| Діапазон вимірювання | |
| X axis range | 20 мм / 1 дюйм, 4 мм / 0.15 дюймів |
