2D комп’ютерний штангенрейсмас
Патент US10184772, UA99687, UA131637, UA202002000 від MICROTECH
*taxes are not included
- Опис
- Technical data
- PDF-Datasheet
Опис
Мікронний 2D Штангенрейсмас виробництва МІКРОТЕХ дозволяє проводити високоточні вимірювання в двох координатах. Дискретність вимірювання в координаті Z – 1 мікрон, в координаті X – 0,1 мікрон.
Дані вимірювань відображаються всередині комп’ютеризованої системи MICS розробки МИКРОТЕХ і можуть передаватися на додаток МИКРОТЕХ MDS Pro для обробки даних, збереження 2D, 1D графіки, архівації даних або передачі в зовнішні додатки Windows.
Всі Штангенрейсмаси МИКРОТЕХ проходять метрологічний контроль а акредитованої по ISO 17025 лабораторії.
Додаткова інформація
| Resolution, mm | |
|---|---|
| Вивід даних | |
| Індикація | |
| Батерея | |
| Діапазон вимірювання | |
| X axis range | 100 мм / 4 дюйми, 25 мм / 1 дюйм, 50 мм / 2 дюйми |
